GE Panametrics 露點儀探頭MIS PROBE2技術參數

40多年來，GE氧化鋁水分探頭一直是工業水分測量的性能和價值標準。

在使用中，M系列濕度探頭通過互連電纜連接到GE濕度計控制臺。易用性、廣泛的測量范圍和嚴格

的校準標準使這些系統成為全球工業濕度測量的 。

內置壓力和溫度測量

許多濕度測量參數的精確確定需要了解過程溫度和壓力。與安裝和使用單獨的溫度和壓力傳

感器相關的不便和限制已經消除，這兩種功能都直接內置在Moisture Image Series探頭中。

可提供一個用于測量-30至70°C（-22至158°F）溫度的非線性NTC熱敏電阻和五個固態壓阻傳感器，

用于測量高達5000 psig（345 bar）的壓力。

超低量程Ppbv標度

Moisture Image Series 1和2分析儀的ppbv低量程是通過采用三種獨立但同樣重要的技術實現的。

首先，先進的新型基于微處理器的濕度圖像系列探頭具有16位分辨率，使其能夠檢測傳感器阻抗的微

小變化，從而檢測濕度水平。

當與VCR兼容配件相結合時，該傳感器在超高純度系統中提供 的性能。

可追溯到NIST的嚴格校準標準

每個MIS探頭的氧化鋁傳感器都在 先進的濕度校準設備中進行單獨校準。該設施經過幾十年的

開發，可產生精確已知的水分濃度，可追溯到美國國家標準與技術研究所（NIST），每個傳感器在校準

過程中都會暴露在該機構中。